‘हाई-टेक’ नकल: एम्स में एआई से प्रश्न हल करते पकड़े गए दो छात्र, चप्पल के निचले हिस्से को काटकर मोबाइल रखने की जगह बनाई

राज्य ब्यूरो, नईदुनिया, रायपुर। अखिल भारतीय आयुर्विज्ञान संस्थान (AIIMS) में एमबीबीएस परीक्षा (MBBS Exam) में नकल का मामला सामने आया है। करीब एक सप्ताह पहले परीक्षा में शामिल दो अभ्यर्थी ‘हाई-टेक’ तरीके से नकल करते पकड़े गए।

दोनों सुरक्षा व्यवस्था को धता बताते हुए चप्पलों (सैंडल) में मोबाइल छिपाकर परीक्षा कक्ष पहुंचे थे। यहां परीक्षक की सतर्कता ने उनके नकल करने की योजना फेल हो गई।

जांच कमेटी गठित

एम्स प्रबंधन ने मामले में जांच कमेटी गठित की है। एम्स परिसर स्थित मेडिकल कॉलेज में एमबीबीएस की परीक्षा चल रही थी, जिसमें अंतिम वर्ष के छात्र भी शामिल हुए थे।

मोबाइल अंदर ले जाने में सफल रहे

चप्पल के निचले हिस्से को काटकर जगह बनाई

नकल करते हुए दो अभ्यर्थियों को पकड़ा गया है। जांच कमेटी बनाई गई है। रिपोर्ट आने पर एम्स के नियमों के तहत दंडात्मक कार्रवाई की जाएगी।

-डॉ. मृत्युंजय राठौर, पीआरओ, एम्स